AI-YMS简介
面对晶圆良率波动，传统的分析路径往往受限于数据分散、人工比对繁琐、多维度关联耗时长等瓶颈。我们正式推出以YMS为核心，多软件工具协同支撑的全链路良率监控与溯因Agent，将资深良率工程师的复杂推理链路转化为 标准化、可复用的自动化分析能力。
AI-YMS
智能良率溯因Agent
案例应用
beat365在线唯一官网沉淀了30+半导体业务MCP工具：
· 半导体图表绘制MCP · 相关性分析MCP
· YMS统计分析MCP · 不良机台定位MCP
· 批量数据拉取MCP（支持CP/Defect/WAT等多数据源） · Q time分析MCP
· 良率Case库MCP · 测试问题分析MCP
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· 调用YMS Site 分析MCP 进行分析
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· 根据site 间差异对比判断测试问题并非该低良问题的根因
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· 共同机台分析
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产品特点
AI YMS是beat365在线唯一官网研发的YMS自主分析Agent，以“感知 — 分析 — 决策 — 沉淀 ”为核心流程，将复杂的良率工程逻辑，转化为可规模化应用的企业智能资产。以数据驱动决策，缩短异常处置周期，助力制造良率持续提升。
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全量数据自主融合
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常态化主动监控
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自动拉取并关联CP、WAT、WIP、
Defect、FDC等多源数据，构建
完整的分析基底，消除数据孤岛。
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按Lot/Day维度自动执行良率与关键
参数的日常监控，及时发现偏移与异
常趋势，将被动响应转变为主动预警。
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智能化关联下钻
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结论式报告输出
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基于空间异常与参数偏移的联动机
制，自动触发工艺区间回溯与机台
级数据追查，实现从现象到本质的
递进式推理。
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最终生成包含问题定位、根因判断及 优化建议的结构化总结报告，为决策提 供直接依据。 |
